Control de impurezas para semiconductores y electrónica de próxima generación

• Chady Stephan, PhD. Gerente de mercado global, PerkinElmer 

Sesión 2: 

NexION 5000 Multi-Quadrupole ICP-MS en la industria de semiconductores y productos químicos finos

• Ewa Pruszkowski, PhD. PerkinElmer 

• Kenneth Ong, gerente, PerkinElmer 

• Kyoko Kobayashi, científico principal de aplicaciones, PerkinElmer

Sesión 3: 

Análisis de impurezas metálicas ultratraza en FAB de semiconductores por ICP-MS en línea

• Katsu Kawabata, presidente, IAS 

Sesión 4: 

Análisis de impurezas metálicas en obleas de Si utilizando VPD-ICP-MS totalmente automatizado

• Tatsu Ichinose, director técnico, IAS 

Sesión 5: 

Caracterización semiautomatizada de obleas de silicio en el espectrómetro Spectrum 3 MIR / NIR / FIR

• Ian Robertson, especialista sénior en aplicaciones, PerkinElmer 

Sesión 6: 

Aplicaciones de análisis térmico en la industria de semiconductores

• Aniket, PhD. Líder de la línea de productos de caracterización de materiales, PerkinElmer 

Sesión 7: 

Análisis de COV y AMC utilizando técnicas ATD-GC / MS en línea / fuera de línea para semiconductores

• Miles Snow, científico principal de aplicaciones, PerkinElmer 

Sesión 8: 

• Mesa redonda con nuestros presentadores expertos 

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