El sistema microscópico  FT-IR  Spotlight 200  es una plataforma de microscopía de alto rendimiento, diseñada para generar datos reproducibles de alta calidad de una variedad de tipos de muestras.

La combinación de un sistema altamente automatizado, muy fácil de usar y una sensibilidad excepcional garantiza que los espectros de calidad se pueden obtener desde áreas de muestra hasta el límite de difracción de 10 micras. Además, Spotlight 200 también tiene la capacidad de ser  actualizado al Sistema de Imágenes Spotlight 400 permitiendo imágenes aún más rápidas.

El sistema FT-IR  Spotlight 200  cuenta con:

• Sistema de señal-ruido de mayor rendimiento que ofrece espectros de la mejor calidad y imágenes más rápidas

• Puede funcionar en transmisión, reflectancia y micro-ATR automatizado para una máxima flexibilidad de muestreo

• Puede utilizarse con configuraciones FT-IR de rango extendido, IR cercano o IR doble, para proporcionar la máxima información de las muestras en el menor tiempo posible

• Instrumento flexible y de alto rendimiento que permite una excepcional capacidad de aplicaciones